技术参数：
重 量： 基体配置1.2kg；带电池1.6kg
尺 寸： 长度：30cm；高度：23cm；宽度：7.5cm
X射线发生器：银或钨靶微型X射线管；10-40kV，10-50μA
主要过滤器：5个过滤器
测量尺寸：接触样品表面测量时，7.75 mm
X射线探测管：Si-PIN高分辨率探测系统
温度范围：-10℃—50℃
电源： 可充电锂离子电池；含2块电池及充电器；AC转换器及多电池电源可选购。
参数调整：不锈钢316作为参考标准
主要特点：
HMX系统主要特点， 无论体积多大的电镀件，HMX系统都有理想的解决办法。是QC、电镀线以及实验室分析等应用的现场测量工具。 现场的样品分析，基材管理的合金分类以及合金确认，独特的“分组测量”模式，允许计算一组部件的平均厚度。
仪器介绍：
实验室搬到现场，快速、准确、无损的手提式XRF分析仪，甚至可以挂在皮带上。 美国Matrix Metrologies公司最新推出世界首创的手提式XRF涂层厚度及成份分析仪－HMX系统。HMX系统不仅具有操作简单、重量轻、电池供电的特点，而且具有实验室XRF的全部功能。 HMX系统特别适用于任何尺寸电镀件快速的厚度测量和成份分析。对于台式XRF很难甚至无法测量的大体积电镀件，而对于HMX系统来说，则是最理想的测量对象。 全便携、无需特殊设置、无需操作者有丰富经验，HMX系统胜任实验室测量以及现场测量，节约了运输被测部件的时间及费用。 只需一台HMX系统，就可以完成对来料的质量检测、基材的前处理检测、电镀过程中的随机检测以及电镀件的最终检测。 HMX系统也是唯一的一种能够同时测量小部件的手提式仪器。只需简单地“定位和测量”，仪器就会自动产生厚度的平均值。
现在，需要快速、准确、功能强大的XRF系统的用户，无论何时何地，都有了最好的选择， 选择就是：Matrix Metrologies 选择就是：HMX系统
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